elektronenmikroskopie
Die Elektronenmikroskopie ermöglicht die Beobachtung von Details, die mit einem herkömmlichen Lichtmikroskop nicht auflösbar sind. Das Rasterelektronenmikroskop (SEM) nutzt einen Elektronenstrahl, um Strukturen auf mikroskopischer Ebene detailliert zu untersuchen. Es kann eine Auflösung von bis zu einem Nanometer erreichen, so dass Details sichtbar werden, die mit optischen Geräten nicht möglich sind. Die Elektronen des Strahls interagieren mit der Probenoberfläche und erzeugen ein Signal, das ein Bild erzeugt. Diese Technologie findet Anwendung in der Biologie, der Industrie und der Materialforschung. Zu den Anwendungen der Elektronenmikroskopie gehören die Strukturanalyse, die Qualitätskontrolle von Materialien und die Oberflächenuntersuchung.
anwendungsbereiche
- Defektoskopie
- Anzeige der Materialstruktur
- Erkennung von Verunreinigungen und Fremdstoffen
- Schichtdickenmessung
materialstruktur und Defektoskopie
Die Elektronenmikroskopie ermöglicht die Untersuchung von Defekten sowohl an der Oberfläche als auch im Inneren des Materials. Dabei kann es sich um sehr kleine Risse (Mikrorisse), Schmutz oder Defekte zwischen den Schichten handeln. Das SEM-Mikroskop ermöglicht auch die Identifizierung und Visualisierung verschiedener Arten von Korrosionsdefekten auf der Oberfläche des Materials.
schichtdickenmessung
Bei bestimmten Anwendungen ist eine garantierte Dicke der Schutzschicht erforderlich, die aus mehreren Schichten unterschiedlicher Materialien bestehen kann (z. B. Nickel, Kupfer, Epoxid usw.). Bei präzisionsgeklebten Teilen ist es wichtig, die definierte Dicke der Haftschicht zu kontrollieren (z. B. bei laminierten Magneten).
merkmale unseres Mikroskops
- maximale Probengröße - Durchmesser 80 mm, Höhe 50 mm
- Auflösung 8 nm
- Vergrößerung bis zu 100.000x
Jan Kratochvil ml.
