elektrónová mikroskopia
Elektrónová mikroskopia umožňuje pozorovať detaily, ktoré nie je možné rozlíšiť bežným optickým mikroskopom. Skenovací elektrónový mikroskop (SEM) využíva lúč elektrónov na detailné skúmanie štruktúr na mikroskopickej úrovni. Môže dosiahnuť až nanometrové rozlíšenie, čo umožňuje vidieť detaily, ktoré sú mimo možností optických prístrojov. Elektróny z lúča interagujú s povrchom vzorky a generujú signál na vytvorenie obrazu. Táto technológia nachádza uplatnenie od biológie a priemyslu až po výskum materiálov. Medzi aplikácie elektrónovej mikroskopie patrí analýza štruktúry, kontrola kvality materiálov a skúmanie povrchu.
oblasti použitia
- defektoskopia
- zobrazovanie štruktúry materiálu
- detekcia nečistôt a prímesí
- meranie hrúbky vrstvy
štruktúra materiálu a defektoskopia
Elektrónová mikroskopia umožňuje skúmať defekty na povrchu aj vo vnútri materiálu. Môžu to byť veľmi malé trhliny (mikrotrhliny), nečistoty alebo medzivrstvové defekty. Mikroskop SEM umožňuje aj identifikáciu a vizualizáciu rôznych typov koróznych defektov na povrchu materiálu.
meranie hrúbky vrstvy
Vo vybraných aplikáciách existuje požiadavka na garantovanú hrúbku ochranného povlaku, ktorý môže pozostávať z viacerých vrstiev rôznych materiálov (napr. nikel, meď, epoxid atď.) V prípade presných lepených dielov je dôležité kontrolovať definovanú hrúbku lepiacej vrstvy (napr. laminované magnety).
vlastnosti nášho mikroskopu
- maximálna veľkosť vzorky - priemer 80 mm, výška 50 mm
- rozlíšenie 8 nm
- zväčšenie až 100 000x
Jan Kratochvil ml.
